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碳化硅(SiC)和硅(Si)作为半导体材料,因其不同的物理特性,在多个行业领域形成了互补或替代的应用格局。以下是它们在主要行业、产品和技术中的具体应用对比:

硅是传统半导体技术的基石,成熟度高、成本低,广泛应用于:
集成电路(IC)
产品:CPU、GPU、内存、手机SoC等。
技术:CMOS工艺(目前主流制程已进入3nm时代)。
消费电子与计算
产品:智能手机、电脑、家电的微控制器(MCU)、电源管理芯片等。
光伏产业
技术:晶体硅太阳能电池(单晶/多晶硅),占全球光伏市场的95%以上。
中低压功率器件
产品:IGBT、MOSFET(电压通常<1200V)。
应用:工业电机、家用电器、传统汽车电控等。
SiC凭借高禁带宽度、高击穿场强、高热导率等优势,主要攻克高温、高频、高压场景:
新能源汽车
电驱系统:SiC MOSFET用于主逆变器,提升效率(如特斯拉Model 3)。
车载充电器(OBC):提高充电速度,减少能量损耗。
DC-DC转换器:为车内低压系统供电。
可再生能源与储能
光伏逆变器:提高转换效率,降低散热需求。
风电变流器:适应高压环境。
储能系统(ESS):优化双向充放电效率。
工业与能源基础设施
高压电网:固态变压器、柔性交流输电(FACTS)。
工业电机驱动:矿机、轨道交通牵引变流器(如中国“复兴号”高铁)。
航空航天与国防
雷达系统:SiC器件用于高功率射频组件。
航空电源:飞机电力系统(如波音787)。
5G通信与射频
基站功率放大器:SiC基氮化镓(GaN-on-SiC)用于宏基站射频模块。
| 特性 | 硅(Si) | 碳化硅(SiC) |
| 禁带宽度 | 1.12 eV(窄) | 3.26 eV(宽) |
| 击穿场强 | 较低(≈0.3 MV/cm) | 高(≈3 MV/cm) |
| 热导率 | 较低(≈150 W/m·K) | 高(≈490 W/m·K) |
| 适用频率 | 低频到中频(<GHz) | 高频(可达GHz以上) |
| 成本 | 低(产业链成熟) | 较高(衬底制备难度大) |
| 典型器件 | IGBT、硅基MOSFET | SiC MOSFET、SBD(肖特基二极管) |
技术演进趋势:
硅器件:持续向微缩化发展,但在功率领域逼近物理极限。
SiC器件:随成本下降(预计2025年后衬底价格降低30%-50%),逐步替代硅基IGBT在高压场景的地位。
互补共存:SiC主打高压高功率(≥600V),硅在低压和高集成度领域保持优势,GaN则侧重高频应用(如快充、射频)。
电动汽车800V高压平台:SiC是实现快充和长续航的关键。
能源互联网:高压直流输电(HVDC)需要SiC功率模块。
太空技术:SiC耐辐射特性适合卫星电源系统。
硅仍是电子产业的“粮食”,支撑着数字化社会的底层芯片;而碳化硅是“突破性材料”,推动能源革命和高端制造升级。两者在技术路线图上呈现协同演进态势,共同驱动电力电子技术向高效化、小型化发展。
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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